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Quarzglas

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Allgemeines
Name Quarzglas
Andere Namen fused silica, Quartzglas, Kieselglas
Summenformel SiO2
Kurzbeschreibung Glas aus reinem SiO2
Eigenschaften
Physikalische Eigenschaften
Dichte 2201 kg/m³
Zugfestigkeit (stark abh. v. Gestalt) ca. 50 N/mm²
Verunreinigungen typ. 10-1000 ppm
Optische Eigenschaften
Transmission (Physik) 160-3500 nm
Brechzahl 1,46
Brewsterwinkel 55,58 °
Thermische Eigenschaften
Wärmeausdehnungskoeffizient 0…600 °C 0,54 10-6 K-1[1]
Spezifische Wärmekapazität 0…900 °C 1052 J/(kg K)[2]
Wärmeleitfähigkeit (20°C) 1,38 W/(m K)[3]
Wärmeleitfähigkeit (2000 °C) 15 W/(m K)
Transformationspunkt 1130 °C
Erweichungstemperatur 1585 °C[1]
Verarbeitungstemperatur >2000 °C
Siedepunkt 2230 °C

Quarzglas ist ein Glas, das im Gegensatz zu den gebräuchlichen Gläsern keine Beimengungen von Soda oder Calciumoxid enthält, also aus reinem Siliziumdioxid (SiO2, engl. Bez. daher fused silica) besteht.

Quarzglas kann durch Aufschmelzung und Wiedererstarrung von Quarz (Quarzsand oder künstlich hergestellt) gewonnen werden (engl. Bez. daher auch fused quartz).

Aufgrund des amorphen Gefüges von Quarzglas gegenüber dem kristallinen Quarz ist die auch übliche Bezeichnung Kieselglas eigentlich passender.

Eigenschaften

  • Durchlässigkeit für Infrarot- bis Ultraviolettstrahlung (ca. 2500…<200 nm sowie 3…3,5 µm Wellenlänge)
  • geringer thermischer Ausdehnungskoeffizient und hohe Temperaturwechselbeständigkeit
  • hohe chemische Beständigkeit: Quarzglas wird mit Ausnahme von Flusssäure und heißer Phosphorsäure von keiner Säure angegriffen und verhält sich gegenüber vielen anderen Stoffen neutral
  • Die Durchschlagsspannung beträgt ca 150kV/cm, was Quarzglas zu einem guten Isolationsmaterial in Elektrotechnischen Bauteilen wie Optokopplern macht

Anwendungen

Quarzglas besonderer Reinheit ist für Wellenlängen von 190…3500 nm transparent, hat jedoch normalerweise ein durch OH-Gruppen verursachtes Absorptionsband bei ca. 2500…3000 nm.

Durch Dotierung mit Titan kann UV-C-Absorption, durch Cer-Dotierung kann Absorption im gesamten Ultraviolettbereich erreicht werden (UV-blockende Halogenglühlampen).

Verbesserte Infrarot-Transmission zwischen Wellenlängen von 2200…3000 nm wird durch verringerten Hydroxyl- bzw. OH-Gruppen-Gehalt erreicht (normal: 100 ppm, verbesserte IR-Transmission: 1…3 ppm)[4].

Quellen

  1. Zhang, X.R., X. Xu, and A.M. Rubenchik, Simulation of microscale densification during femtosecond laser processing of dielectric materials. Appl. Phys. A: Materials Science & Processing, 2004. 79: p. 945. (Angabe des softening point: 1858K)
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