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Joint Test Action Group
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JTAG steht für "Joint Test Action Group" und bezeichnet normalerweise den IEEE-Standard 1149.1, der ein Verfahren zum Testen und Debugging von elektronischer Hardware beschreibt.
Die JTAG entstand durch einen Zusammenschluss von Halbleiterherstellern im Jahre 1985/86. Es wurde ein Standard erarbeitet, welcher in der Norm IEEE 1149.1-1990 festgehalten ist. Das Verfahren ist auch unter dem Namen Boundary Scan Test bekannt.
Der Zweck des Verfahrens ist, integrierte Schaltkreise und ihre Verbindungsleitungen, welche sich bereits in einer Arbeitsumgebung befinden, beispielsweise verlötet auf einer Platine, auf Funktion zu testen. Dazu werden integrierte Schaltkreise (ICs) in ihrem inneren Aufbau durch JTAG-Komponenten ergänzt, welche bei der normalen Funktion der Bauteile vollkommen davon abgetrennt sind und die Funktion des Bauteils somit nicht stören. Erst mit aktivieren der JTAG-Funktion am Test Mode Select Input, wird die Kontrolle aller Ein- und Ausgänge an JTAG übergeben.
Ähnlich einer speicherprogrammierbaren Steuerung können dann alle Ein- und Ausgänge den Spannungspegel von HI auf LOW und umgekehrt ändern. Die Programmierung über JTAG erfolgt seriell. Das heißt, dass je nach Anzahl der zu steuernden Ein- und Ausgänge, ein Schieberegister im Bauteil nacheinander mit einer Folge von HI (1) und LOW (0) Spannungspegeln gefüllt wird. Erst wenn das Schieberegister voll ist, werden die Spannungspegel an den Ausgängen ausgegeben.
Im allgemeinen wird von der JTAG-Schnittstelle oder dem JTAG-Port gesprochen. Die JTAG-Schnittstelle besteht aus fünf Steuerleitungen:
- Test Data Input (TDI)
- Test Data Output (TDO)
- Test Clock (TCK)
- Test Mode Select Input (TMS)
- Test Reset (TRST)
Inzwischen wird JTAG vermehrt auch zur Konfiguration von FPGAs und CPLDs sowie zum Programmieren und zum Debuggen von Mikrocontrollern verwendet. Parallel programmierbare Speicher wie zum Beispiel Flashspeicher, die direkt an Schaltkreise mit JTAG-Port angeschlossen sind, können deshalb in eingebautem Zustand umprogrammiert werden, weil der Schaltkreis mit JTAG-Port für den Speicherchip ein Programmiergerät emulieren kann. Um einen Schaltkreis mit JTAG-Port damit nutzen zu können, ist es notwendig, das Innere des Schaltkreises genau zu kennen. Das wird in einer BSDL-Datei (Boundary Scan Description Language) beschrieben, die vom Hersteller des Schaltkreises zu bekommen ist.
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